آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع فارسی: آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع انگلیسی: Error Threshold for Individual Faulty Gates Using Probabilistic Transfer Matrix (PTM)
تعداد صفحه: 8
فرمت فایل: PDF
سال انتشار: 2014
زبان مقاله: انگلیسی
چکیده: در پیشرفت از تکنولوژی CMOS به فناوری نانو، که قادر به ارزیابی قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی مبتنی بر نانو است که به سرعت لازم تبدیل شدن است. با توجه به این پدیده، چندین روش محاسباتی مبتنی بر برای ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو ارائه شده است. در اندازه گیری قابلیت اطمینان اندازه گیری از سیستم مدار مورد نظر، دروازه معیوب به عنوان بخش فعال ترین سیستم در نظر گرفته. به سیستم قابل اعتماد مدار، جدا از دروازه معیوب خود را، به اندازه خطا، ص، در آن دروازه معیوب را به کمتر از آستانه، ɛ *. به عبارت دیگر، برای دروازه معیوب فرد به عملکرد قابل اعتماد، فاصله پارامتر از خطا در این دروازه معیوب را به 0 ≤ P <ɛ *، بر اساس آستانه خطا دروازه مربوطه می باشند. این فرض است که قابلیت اطمینان از سیستم مدار مورد نظر نه تنها در دروازه معیوب آن بستگی دارد، اما آن را نیز در آستانه خطا از این دروازه معیوب بالا که هیچ محاسبه قابل اعتماد ممکن است بستگی دارد. بنابراین، نیاز به محاسبه آستانه خطا برای دروازه معیوب فرد بالا که هیچ مدار ساخته شده تا با استفاده از آن دروازه قابل اعتماد می تواند محاسبه وجود دارد. در این مقاله به اشتغال از مدل ماتریس انتقال احتمالی (PTM) در استخراج در آستانه خطا دقیق برای دروازه معیوب فرد را نشان می دهد. روش به کار روش تحلیل ساده و قدرتمند برای تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان اندازه گیری سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو فراهم می کند.
آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع فارسی: آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع انگلیسی: Error Threshold for Individual Faulty Gates Using Probabilistic Transfer Matrix (PTM)
تعداد صفحه: 8
فرمت فایل: PDF
سال انتشار: 2014
زبان مقاله: انگلیسی
چکیده: در پیشرفت از تکنولوژی CMOS به فناوری نانو، که قادر به ارزیابی قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی مبتنی بر نانو است که به سرعت لازم تبدیل شدن است. با توجه به این پدیده، چندین روش محاسباتی مبتنی بر برای ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو ارائه شده است. در اندازه گیری قابلیت اطمینان اندازه گیری از سیستم مدار مورد نظر، دروازه معیوب به عنوان بخش فعال ترین سیستم در نظر گرفته. به سیستم قابل اعتماد مدار، جدا از دروازه معیوب خود را، به اندازه خطا، ص، در آن دروازه معیوب را به کمتر از آستانه، ɛ *. به عبارت دیگر، برای دروازه معیوب فرد به عملکرد قابل اعتماد، فاصله پارامتر از خطا در این دروازه معیوب را به 0 ≤ P <ɛ *، بر اساس آستانه خطا دروازه مربوطه می باشند. این فرض است که قابلیت اطمینان از سیستم مدار مورد نظر نه تنها در دروازه معیوب آن بستگی دارد، اما آن را نیز در آستانه خطا از این دروازه معیوب بالا که هیچ محاسبه قابل اعتماد ممکن است بستگی دارد. بنابراین، نیاز به محاسبه آستانه خطا برای دروازه معیوب فرد بالا که هیچ مدار ساخته شده تا با استفاده از آن دروازه قابل اعتماد می تواند محاسبه وجود دارد. در این مقاله به اشتغال از مدل ماتریس انتقال احتمالی (PTM) در استخراج در آستانه خطا دقیق برای دروازه معیوب فرد را نشان می دهد. روش به کار روش تحلیل ساده و قدرتمند برای تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان اندازه گیری سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو فراهم می کند.
پاورپوینت نانوفناوری در معماری
پاورپوینت نانوفناوری در معماری
45 اسلاید
کاربرد نانوتکنولوژی
در صنعت ساختمان
رنگ های تصفیه کننده هوا
نانو ضد آب کننده ها
نانو شیشه ها (شیشه های خود تمیز شونده)
شیشه های محافظ در برابر آتش
شیشه های کنترل کننده انرژی
نانو آسفالت ها
نانوکامپوزیت ها
تصفیه کننده های آب و فاضلاب
آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع فارسی: آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)
موضوع انگلیسی: Error Threshold for Individual Faulty Gates Using Probabilistic Transfer Matrix (PTM)
تعداد صفحه: 8
فرمت فایل: PDF
سال انتشار: 2014
زبان مقاله: انگلیسی
چکیده: در پیشرفت از تکنولوژی CMOS به فناوری نانو، که قادر به ارزیابی قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی مبتنی بر نانو است که به سرعت لازم تبدیل شدن است. با توجه به این پدیده، چندین روش محاسباتی مبتنی بر برای ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو ارائه شده است. در اندازه گیری قابلیت اطمینان اندازه گیری از سیستم مدار مورد نظر، دروازه معیوب به عنوان بخش فعال ترین سیستم در نظر گرفته. به سیستم قابل اعتماد مدار، جدا از دروازه معیوب خود را، به اندازه خطا، ص، در آن دروازه معیوب را به کمتر از آستانه، ɛ *. به عبارت دیگر، برای دروازه معیوب فرد به عملکرد قابل اعتماد، فاصله پارامتر از خطا در این دروازه معیوب را به 0 ≤ P <ɛ *، بر اساس آستانه خطا دروازه مربوطه می باشند. این فرض است که قابلیت اطمینان از سیستم مدار مورد نظر نه تنها در دروازه معیوب آن بستگی دارد، اما آن را نیز در آستانه خطا از این دروازه معیوب بالا که هیچ محاسبه قابل اعتماد ممکن است بستگی دارد. بنابراین، نیاز به محاسبه آستانه خطا برای دروازه معیوب فرد بالا که هیچ مدار ساخته شده تا با استفاده از آن دروازه قابل اعتماد می تواند محاسبه وجود دارد. در این مقاله به اشتغال از مدل ماتریس انتقال احتمالی (PTM) در استخراج در آستانه خطا دقیق برای دروازه معیوب فرد را نشان می دهد. روش به کار روش تحلیل ساده و قدرتمند برای تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان اندازه گیری سیستم های مدار مبتنی بر فناوری نانو فراهم می کند.